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Microscope électronique à balayage
Technique de caractérisation du solide sur échantillons massifs, poudres, échantillons enrobés polis, lames polis :
- Imagerie en électrons secondaires (topographie), en électrons rétrodiffusés (contraste de numéro atomique)
- Cathodoluminescence (structures internes)
- Microanalyse EDS (analyse élémentaire qualitative, quantification relative de phases cristallines, cartographie X).
MEB | Vega3 Tescan | |
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Cadre d’utilisation | Appareil de l’équipe minéralogie accessible à la réservation (voir en bas) | |
Eléments analysés | à partir du Bore hors gaz | |
Caractéristiques techniques | Données techniques : | Microscope à balayage conventionnel à pression controlée Tension de 5kV à 30KV. Platine 5 axes. Platine refroidie. Détecteurs électrons secondaires et rétrodiffusés. Détecteur de cathodoluminescence monochromatique. Détecteur STEM. Détecteur X SDD 30mm2. |
Types d’analyses possibles : | Caracterisation, analyse chimique semiquantitative, traitement d’image pour quantification des différentes phases | |
Responsables de l’outil
Equipe associé |
Responsable scientifique : Responsable technique : |
RESERVATIONS
– Lundi, mardi : utilisateurs non autonomes
Réservation à la demi journée : 8h-12h30 / 13h-16h30
– Mercredi au vendredi : utilisateurs autonomes
Réservation à la demi journée : 8h-13h / à partir de 13h
Journée possible suivant disponibilité
Pour réserver, envoyer un courriel à Rachel Martin
Réservation autorisée du :
au